HOME > Presentation > Detail結像型X線ナノCTによる電子デバイスの信頼性解析:MLCCの電極構造形成プロセス大熊 学, 齋藤 直哉, 若井 史博, 水野 高太郎. 日本セラミックス協会 2021年年会. March 23, 2021-March 25, 2021.NIMS author(s)OKUMA, GakuFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2022-01-05 03:27:03 +0900 Updated at: 2022-01-05 03:27:03 +0900