(Thickness Characterization, Carrier Injection and Scattering Mechanisms in Atomically Thin MoS2 Transistors)
ChinaNANO 2013. 2013年09月05日-2013年09月07日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-01-08 05:01:15 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:39:41 +0900