HOME > Presentation > Detail走査トンネル顕微鏡によるSi(100)再構成表面の構造操作(Surface Phase Manipulation on Si(100) using Low Temperature Scanning Tunneling Microscopy)鷺坂 恵介, 藤田 大介, 木戸 義勇. 日本顕微鏡学会第59回学術講演会. June 07, 2003-June 09, 2003.NIMS author(s)SAGISAKA, KeisukeFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-02-18 03:18:52 +0900 Updated at: 2017-07-10 18:42:40 +0900