XPS線分析による層状界面層の組成・結合エネルギー測定
(Measurement of composition and binding energy of layered interfacial phases by XPS line scanning)
日本表面科学会. 1997年12月02日-1997年12月04日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-18 01:21:43 +0900 更新時刻: 2017-07-10 17:45:15 +0900