HOME > 口頭発表 > 書誌詳細通常Ｘ線源を用いた顕微断層撮影によるC/SiCの３次元観察.山内 泰, 岸本直樹, 生田孝, 岸本直樹, 生田孝. 日本金属学会. 1992年04月01日-1992年04月03日.NIMS著者Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-18 00:24:08 +0900 更新時刻: 2017-07-10 17:13:10 +0900
