HOME > 口頭発表 > 書誌詳細(Detecting a Non-ideal Interface in a MOS Structure by Biased XPS)吉武 道子, 大毛利 健治, 知京 豊裕. INC8. 2012年05月08日-2012年05月11日.NIMS著者吉武 道子知京 豊裕Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 03:58:13 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:22:21 +0900