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走査型プローブ顕微鏡下での強誘電体ドメインのナノ加工
(Nanoscale ferroelectric domain engineering using a scanning probe microscope)

寺部 一弥, 樋口慎二, 竹川俊二, 中村優, 北村健二.
第11回 インテリジェント材料シンポジウム. 2002-03-14.

NIMS著者


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    作成時刻: 2017-02-18 02:34:18 +0900 更新時刻: 2017-07-10 18:23:43 +0900

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