HOME > 口頭発表 > 書誌詳細走査型プローブ顕微鏡下での強誘電体ドメインのナノ加工(Nanoscale ferroelectric domain engineering using a scanning probe microscope)寺部 一弥, 樋口慎二, 竹川俊二, 中村優, 北村健二. 第11回 インテリジェント材料シンポジウム. 2002-03-14.NIMS著者寺部 一弥Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-18 02:34:18 +0900 更新時刻: 2017-07-10 18:23:43 +0900