HOME > Presentation > Detail高周波STMを用いた状態密度と表面抵抗の局所測定(Local measurements of local density-of-states and surface resistance using high frequency scanning tunneling microscope)町田 理, ガイフーリン マラット, 大井 修一, 平田 和人, 加藤 拓也, 坂田 英明. 日本物理学会第64回年会. March 27, 2009-March 30, 2009.NIMS author(s)OOI, ShuuichiHIRATA, KazutoFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-01-08 03:48:10 +0900Updated at: 2017-07-10 20:26:52 +0900