HOME > 口頭発表 > 書誌詳細多様な材料のナノ電気計測に向けた走査マルチプローブ顕微鏡の開発と応用久保 理, 新ヶ谷 義隆, 樋口 誠司, 倉持 宏実, 青野 正和, 中山 知信. 特別講演会. 2010. 招待講演NIMS著者新ヶ谷 義隆青野 正和中山 知信Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2017-02-14 11:14:42 +0900 更新時刻 :2024-03-05 11:43:15 +0900