Si上に直接成長させたGe膜中の深い準位の測定
(Study of Deep levels in Ge directly deposited on Si)
2001年（平成13年）春季第48回応用物理学関係連合講演会 . 2001年03月28日-2001年03月31日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-18 02:13:53 +0900 更新時刻: 2017-07-10 18:13:25 +0900