HOME > 口頭発表 > 書誌詳細InGaN厚膜の欠陥準位評価中野由崇, 新部正人, ロザック ミカエル, サン リウエン, 角谷 正友. 第73回応用物理学会学術講演会. 2012.NIMS著者サン リウエン角谷 正友Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 10:56:32 +0900更新時刻: 2018-06-05 13:18:52 +0900
