HOME > 口頭発表 > 書誌詳細イメージングSIMSによるBIT中の酸素拡散評価(A study of oxygen diffusion in BIT ceramics by imaging SIMS)坂口 勲, 永田肇, 藤田裕司, 江野沢寛忠, 羽田 肇, 竹中正. 日本応用物理学会秋季大会. 2003年08月30日-2003年09月02日.NIMS著者坂口 勲Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-18 03:24:38 +0900 更新時刻: 2017-07-10 18:44:23 +0900