SPring-8 BL15XUにおける高エネルギー放射光を用いたX線光電子顕微鏡(XPEEM)
(X-ray photoemission electron microscopy (XPEEM) with high energy SR light at SPring8 BL15XU)
Atomin Level Characterization 2003. 2003年10月05日-2003年10月10日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-18 03:30:50 +0900 更新時刻: 2017-07-10 18:46:12 +0900