HOME > 口頭発表 > 書誌詳細局所障壁高さの電圧依存性の測定(Bias Voltage Dependence of Local Potential Barrier Height)柳生 進二郎, 吉武 道子. 第22回表面科学講演大会. 2002年11月26日-2002年11月28日.NIMS著者柳生 進二郎吉武 道子Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 03:54:28 +0900 更新時刻: 2017-07-10 18:33:11 +0900