Double-cap成長法によるInP上InAs量子ドットの断面STM観察
(Cross-sectional STM observation of InAs quantum dots grown by a double-cap method)
第66回応用物理学会学術講演会. 2005年09月07日-2005年09月11日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-01-08 04:43:59 +0900 更新時刻: 2017-07-10 19:23:38 +0900