HOME > 口頭発表 > 書誌詳細走査トンネル分光を用いた鉄シリサイド超薄膜電子状態の測定(Measurement of the electronic states of iron silicide ultra thin films by scanning tunneling spectroscopy)清水正太郎, 成重卓真, 大野真也, 田中正俊, 鷺坂 恵介, 艸分 倫子, 藤田 大介. 第76回応用物理学会秋期学術講演会. 2015.NIMS著者鷺坂 恵介艸分 倫子藤田 大介Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 04:37:36 +0900更新時刻: 2017-07-10 22:13:49 +0900