走査トンネル分光を用いた鉄シリサイド超薄膜電子状態の測定
(Measurement of the electronic states of iron silicide ultra thin films by scanning tunneling spectroscopy)
第76回応用物理学会秋期学術講演会. 2015年09月13日-2015年09月16日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-01-08 04:37:36 +0900 更新時刻: 2017-07-10 22:13:49 +0900