HOME > 口頭発表 > 詳細量子ビーム回折によるミクロ組織の定量計測(Characterization of Microstructures by Quntam Beam Diffraction)著者友田 陽, 関戸 信彰. 会議名鉄鋼協会春季講演大会国際セッション発表年2016言語Japanese