HOME > Presentation > Detailチューニングフォーク探針を用いたマルチモード原子間力顕微鏡観察(Multi-mode imaging by atomic force microscope using tuning fork probes)久保 理, 樋口 誠司, 倉持 宏実, 新ヶ谷 義隆, 桝田 真太郎, 中山 知信. 2010年秋季 第71回 応用物理学会学術講演会. September 14, 2010-September 17, 2010.NIMS author(s)SHINGAYA, YoshitakaFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-01-08 03:26:55 +0900 Updated at: 2017-07-10 20:54:23 +0900