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チューニングフォーク探針を用いたマルチモード原子間力顕微鏡観察
(Multi-mode imaging by atomic force microscope using tuning fork probes)

著者久保 理, 樋口 誠司, 倉持 宏実, 新ヶ谷 義隆, 桝田 真太郎, 中山 知信.
会議名2010年秋季 第71回 応用物理学会学術講演会
発表年2010
言語Japanese

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