HOME > Presentation > Detail分析TEM法によるMg2Si0.5Sn0.5熱電材料の評価(Evaluation of thermoelectric material Mg2Si0.5Sn0.5 with analytical TEM)長谷川 明, リュウ ジウェイ, 竹口 雅樹, 磯田 幸宏, 辻井 直人. 日本顕微鏡学会第70回記念学術講演会. May 11, 2014-May 13, 2014.NIMS author(s)HASEGAWA, AkiraTAKEGUCHI, MasakiISODA, YukihiroTSUJII, NaohitoFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-01-08 03:28:18 +0900Updated at: 2018-06-05 13:32:05 +0900