HOME > 口頭発表 > 書誌詳細分析TEM法によるMg2Si0.5Sn0.5熱電材料の評価(Evaluation of thermoelectric material Mg2Si0.5Sn0.5 with analytical TEM)長谷川 明, リュウ ジウェイ, 竹口 雅樹, 磯田 幸宏, 辻井 直人. 日本顕微鏡学会第70回記念学術講演会. 2014年05月11日-2014年05月13日.NIMS著者竹口 雅樹磯田 幸宏辻井 直人Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 03:28:18 +0900 更新時刻: 2018-06-05 13:32:05 +0900