HOME > 口頭発表 > 書誌詳細走査型トンネル顕微鏡により観察されたSi(100)表面の量子干渉パターン(Quantum interference patterns on the Si(100) surface observed by scanning tunneling microscopy)鷺坂 恵介, 藤田 大介. The Sixth France-Japan Workshop on Nanomaterials . 2006年03月05日-2006年03月08日.NIMS著者鷺坂 恵介Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 04:52:16 +0900 更新時刻: 2017-07-10 19:34:49 +0900