放射光in-plane回折法による二次元ナノ物質の構造評価
(Characterization of two-dimensional nano-materials by synchrotron radiation X-rays in-plane diffraction)
第17回日本放射光学会年会放射光科学合同シンポジウム. 2004.
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作成時刻: 2017-02-14 11:18:23 +0900更新時刻: 2017-07-10 18:51:48 +0900