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ST-FMR測定に向けたCoGd合金薄膜の補償点組成付近の試料作製とその評価

松田 華奈, 神田 哲典, 首藤 浩文.
電気学会中国支部 第16回高専研究発表会. 2024-03-08.

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    Created at: 2024-06-29 03:13:42 +0900 Updated at: 2024-06-29 03:13:42 +0900

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