モンテカルロ計算に基づくGaAs(001)表面上での鏡面RHEED強度の起源の同定
(Revealing the origin of specular RHEED intensity on GaAs(001) by Monte carlo)
日本物理学会2000年春の分科会. 2000-03-25.
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2017-02-18 01:52:51 +0900 更新時刻: 2017-07-10 18:01:47 +0900
