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モンテカルロ計算に基づくGaAs(001)表面上での鏡面RHEED強度の起源の同定
(Revealing the origin of specular RHEED intensity on GaAs(001) by Monte carlo)

伊藤信, 伊藤信, 大野 隆央, 大野隆央.
日本物理学会2000年春の分科会. 2000-03-25.

NIMS著者


    Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


      作成時刻: 2017-02-18 01:52:51 +0900 更新時刻: 2017-07-10 18:01:47 +0900

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