ナノスケール電気伝導を計測する多探針走査トンネル顕微鏡
(Multiple probe scanning tunneling microscopes for nanoscale conductivity measurements)
MEXT-NSF Joint Symposium. 2003年01月22日-2003年01月24日. 招待講演
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-18 03:05:45 +0900 更新時刻: 2024-03-05 11:39:42 +0900