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著者名Francesco Offi, Francesco Borgatti, YAMASHITA, Yoshiyuki, YANG, Anli, KOBATA, Masaaki, KOBAYASHI, Keisuke, Chanwoo Park, Anja Herpers, Regina Dittmann, Giancarlo Panaccione.
タイトルHard x-ray photoemission spectroscopy used to investigate the resistive switching behavior of manganite heterostructures: the case of Ti/PrCaTiO3 interface
会議名59th AVS international Symposium
発表年2012
言語English
外部での文献参照

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