SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > 口頭発表 > 書誌詳細

近接場光学顕微鏡によるナノイオニクス素子の評価

長田 実, 寺部 一弥, 長谷川 剛.
特定領域研究ナノイオニクス 平 成16年度研究成果報告会. 2005.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻 :2017-02-14 11:36:44 +0900 更新時刻 :2017-07-10 19:31:51 +0900

    ▲ページトップへ移動