HOME > 口頭発表 > 書誌詳細走査トンネル分光によるシリコン表面の電子状態計測(Scanning tunneling spectroscopy on the Si(001) surface)鷺坂 恵介, 藤田 大介. 日本顕微鏡学会第63回学術講演会. 2007.NIMS著者鷺坂 恵介藤田 大介Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 04:44:44 +0900更新時刻: 2017-07-10 19:55:09 +0900