HOME > Presentation > DetailBiS2系超伝導体CeO0.3F0.7BiS2の走査型トンネル顕微鏡/分光(STM/STS)測定出村 郷志, 藤澤 唯太, 町田理, 長尾 雅則, 出口 啓太, 水口 佳一, 高野 義彦, 坂田英明. 2014年秋季大会 日本物理学会. 2014.NIMS author(s)TAKANO, YoshihikoFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-01-08 03:39:28 +0900Updated at: 2017-07-10 22:00:10 +0900