HOME > 口頭発表 > 書誌詳細欠陥による表面応力の発生とその電子誘起緩和(Electron Induced Relaxation of Disorder-induced Surface Stress)成島哲也, 板倉明子, 北島 正弘, 河邊隆也, 成島哲也, 成島哲也, 板倉明子, 河邊隆也, 成島哲也. 日本物理学会. 2001年03月27日-2001年03月30日.NIMS著者板倉 明子Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-18 02:09:18 +0900 更新時刻: 2017-07-10 18:11:00 +0900