SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > 口頭発表 > 書誌詳細

X線回折によるエピタキシャルMgxNi1-xO薄膜の原子配列の秩序度の評価

日本結晶学会 H28年度年会および会員総会. 2016.

NIMS著者


    Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


      作成時刻: 2017-01-08 05:46:12 +0900更新時刻: 2017-07-10 22:32:08 +0900

      ▲ページトップへ移動