HOME > 口頭発表 > 書誌詳細熱電材料Mg2Si0.5Sn0.5のSTEM観察(Characterization of thermoelectric material Mg2Si0.5Sn0.5 by STEM imaging)リュウ ジウェイ, 長谷川 明, 竹口 雅樹, 辻井 直人, 磯田 幸宏. 日本顕微鏡学会 第38回関東支部講演会. 2014-03-08.NIMS著者竹口 雅樹辻井 直人磯田 幸宏Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 04:58:16 +0900 更新時刻: 2017-07-10 21:50:10 +0900