HOME > 口頭発表 > 書誌詳細(Low-temperature and in-field scanning Hall-probe microscopy for MgB2 wire characterization)K. Higashikawa, A. Yamamoto, L. He, K. Shiohara, K. Imamura, M. Inoue, T. Kiss, 松本 明善, 熊倉 浩明. ASC2012. 2012年10月07日-2012年10月12日.NIMS著者松本 明善Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:46:18 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:29:52 +0900