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(Low-temperature and in-field scanning Hall-probe microscopy for MgB2 wire characterization)

K. Higashikawa, A. Yamamoto, L. He, K. Shiohara, K. Imamura, M. Inoue, T. Kiss, 松本 明善, 熊倉 浩明.
ASC2012. 2012年10月07日-2012年10月12日.

NIMS著者


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    作成時刻: 2017-02-14 11:46:18 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:29:52 +0900

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