HOME > 口頭発表 > 書誌詳細SiおよびGeナノワイヤへの不純物ドーピングと評価(Doping and characterization of impurity atoms in Si and Ge nanowires)深田 直樹. IWAMSN2012. 2012. 招待講演NIMS著者深田 直樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 10:57:21 +0900更新時刻: 2024-03-05 11:44:13 +0900