HOME > 口頭発表 > 書誌詳細低温STMによるSi(100)表面の研究(Low Temperature Scanning Tunneling Microscopy on Si(100) Surface)鷺坂 恵介, 北原 昌代, 藤田 大介. The 10th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy. 2002年10月31日-2002年11月02日.NIMS著者鷺坂 恵介Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-18 02:53:56 +0900 更新時刻: 2017-07-10 18:32:39 +0900