Si基板上に直接成長させたGeのTOF-SIMS測定
(TOF-SIMS measurement of Ge directly grown on Si substrate(II))
2014年第61回応用物理学会春期学術講演会. 2014年03月16日-2014年03月20日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-01-08 03:23:17 +0900 更新時刻: 2017-07-10 21:48:06 +0900