HOME > 口頭発表 > 書誌詳細高分解能暗視野走査透過電子顕微鏡によるAl中のXe析出物の観察(HAADF-STEM observation of Xe precipitate in Al matrix)三石和貴, 川崎正博, 竹口雅樹, 保田英洋, 古屋一夫, 三石和貴, 川崎正博, 竹口雅樹, 保田英洋, 古屋一夫. マイクロビームアナリシス第141委員会・第101回研究会. 2000年05月16日-2000年05月17日.NIMS著者三石 和貴竹口 雅樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-18 01:59:12 +0900 更新時刻: 2017-07-10 18:05:11 +0900