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高分解能暗視野走査透過電子顕微鏡によるAl中のXe析出物の観察
(HAADF-STEM observation of Xe precipitate in Al matrix)

三石和貴, 川崎正博, 竹口雅樹, 保田英洋, 古屋一夫, 三石和貴, 川崎正博, 竹口雅樹, 保田英洋, 古屋一夫.
マイクロビームアナリシス第141委員会・第101回研究会. 2000年05月16日-2000年05月17日.

NIMS著者


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    作成時刻: 2017-02-18 01:59:12 +0900 更新時刻: 2017-07-10 18:05:11 +0900

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