HOME > 口頭発表 > 書誌詳細(Defects in Recrystallized Kr-implanted Si)倉持幸治, 中西伸登, 山崎貴司, 三石 和貴, 安西豊, 渡辺和人, 古屋 一夫, 橋本巌. 8th Asia-Pacific Conference on Electron Microscopy (8APEM). 2004.NIMS著者三石 和貴Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2017-02-25 00:56:54 +0900 更新時刻 :2017-07-10 19:20:33 +0900