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(Defects in Recrystallized Kr-implanted Si)

倉持幸治, 中西伸登, 山崎貴司, 三石 和貴, 安西豊, 渡辺和人, 古屋 一夫, 橋本巌.
8th Asia-Pacific Conference on Electron Microscopy (8APEM). 2004.

NIMS著者


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    作成時刻 :2017-02-25 00:56:54 +0900 更新時刻 :2017-07-10 19:20:33 +0900

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