時間分解XRDを用いた電界下の圧電体膜の結晶構造解析とそれを用いた圧電性特性設計
(Time resolved synchrotron X-ray diffraction measurement for ferroelectric and piezoelectric films)
第１５０回電子セラミック・プロセス研究会. 2015. 招待講演
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-14 11:39:25 +0900更新時刻: 2024-03-05 11:45:31 +0900