HOME > Presentation > Detail広域多次元多角的顕微分光解析によるナノ材料デバイスの電子状態解析(Electronic state analysis of nanomaterial devices using multi-scale, multi-dimensional, and multi-modal spectromicroscopy)永村 直佳, 後藤 陸, 大石 健太. 第85回応用物理学会秋季学術講演会. September 16, 2024-September 20, 2024.NIMS author(s)NAGAMURA, NaokaFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2024-10-23 03:09:09 +0900Updated at: 2024-10-23 03:09:09 +0900