HOME > 口頭発表 > 書誌詳細a軸配向ZnO薄膜の残留歪と電気特性の関係(Relationship between residual strain and electrical properties of a-axis oriented ZnO films)安達 裕, 坂口 勲, 大橋 直樹. 第34回エレクトロセラミックス研究討論会. 2014年10月24日-2014年10月25日.NIMS著者安達 裕坂口 勲大橋 直樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:21:47 +0900更新時刻: 2017-07-10 22:00:37 +0900