HOME > 口頭発表 > 書誌詳細10万時間を超える超長時間の高信頼性クリープ試験によるクリープデータシートの作成(Long-term Reliable Creep Test in Excess of 100,000 Hours and Issue of Creep Data Sheets)木村 一弘, 横川 賢二, 金丸 修, 大場 敏夫, 宮崎 秀子. 日本機械学会 2006年度年次大会. 2006年09月18日-2006年09月22日. 招待講演NIMS著者木村 一弘Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:30:24 +0900更新時刻: 2024-03-05 11:41:09 +0900