HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Assesment of FIB induced damage by electron channeling contrast imagingグティエレス ウルティア イヴァン. 72th Meeting of the Japanese Microscopy Society. 2016.NIMS著者グティエレス ウルティア イヴァンMaterials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2017-01-08 04:51:50 +0900 更新時刻 :2017-07-10 22:26:51 +0900