HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Shape Elongation of Embedded Zn Nanoparticles in SiO2 by Swift Heavy Ion Irradiation雨倉 宏, 津谷 大樹, 大久保成彰, 石川法人. 第15回「イオンビームによる表面・界面解析」特別研究会 . 2014.NIMS著者雨倉 宏津谷 大樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 10:59:37 +0900更新時刻: 2017-07-10 22:02:11 +0900
