HOME > 口頭発表 > 書誌詳細走査型アトムプローブによる酸化チタン薄膜の原子レベルの解析西川治, 谷口昌宏, 堀田好美, 山岸忍, 佐々木 高義, 山岸晧彦. 第65回応用物理学会学術講演会. 2004.NIMS著者佐々木 高義Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:45:32 +0900更新時刻: 2017-07-10 19:08:27 +0900
