HOME > Presentation > Detail走査型アトムプローブによる酸化チタン薄膜の原子レベルの解析西川治, 谷口昌宏, 堀田好美, 山岸忍, 佐々木 高義, 山岸晧彦. 第65回応用物理学会学術講演会. September 01, 2004-September 04, 2004.NIMS author(s)SASAKI, TakayoshiFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-02-14 11:45:32 +0900Updated at: 2017-07-10 19:08:27 +0900