HOME > 口頭発表 > 書誌詳細STM計測およびDFT計算を用いたSi(100)表面のリン分子吸着構造の解析(A study of P/Si(100) using STM and DFT simulation)鷺坂 恵介, 藤田 大介. NIMS -AIST 計測・計算シミュレーション合同ワークショップ. 2011. 招待講演NIMS著者鷺坂 恵介藤田 大介Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2017-02-14 11:47:46 +0900 更新時刻 :2024-03-05 11:43:42 +0900