HOME > 口頭発表 > 書誌詳細パルスイオン照射によるクリープ変形の過渡応答計測.(Transient Creep Detection in Response to Pulsed Ion Irradiation.)岸本 直樹, 雨倉 宏, 斎藤鉄哉, 斎藤鉄哉. 日本金属学会. 1994年03月30日-1994年04月01日.NIMS著者雨倉 宏Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:24:11 +0900 更新時刻: 2017-07-10 17:29:09 +0900