HOME > 口頭発表 > 書誌詳細2次イオン質量分析法による炭素系材料中の微量酸素の検出(Detection of trace oxygen in carbon based materials by using secondary ion mass spectrometry)坂口 勲, 田中 英彦, 羽田 肇. 日本セラミックス協会第18回秋期シンポジウム. 2005年09月27日-2005年09月29日.NIMS著者坂口 勲羽田 肇Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:41:57 +0900更新時刻: 2017-07-10 19:24:29 +0900