HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Evaluation with X-ray detection sensitivity under 1 keV using transition edge sensor田中啓一, 永田篤士, 中山哲, 茅根一夫, 満田和久, 原 徹. 17th International Workshop on Low Temperature Detectors. 2017年07月17日-2017年07月21日.NIMS著者原 徹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-05-02 22:58:53 +0900 更新時刻: 2018-06-05 14:08:31 +0900